焊縫超聲波探傷中缺陷判斷方法-根據(jù)探傷波形分析缺陷種類

超聲波探傷作為檢測范圍廣，發(fā)展速度快的無損檢測技術(shù)，它具有穿透性強(qiáng)、靈敏度高、定位準(zhǔn)確、對(duì)人體無傷害等優(yōu)點(diǎn)，因此常被用在金屬焊縫探傷和危險(xiǎn)性較高的焊接結(jié)構(gòu)中。然而，其對(duì)缺陷的定性很復(fù)雜，也很困難，而不同類型的缺陷在焊接結(jié)構(gòu)中的危害程度也不同，因此，正確判斷出缺陷的類型在保障工件、設(shè)備安全運(yùn)行至關(guān)重要。

焊縫中典型缺陷檢測

在超聲波探傷中，超聲儀熒光屏上所顯示波形隨著探頭在工件上移動(dòng)而變化，同個(gè)缺陷在不同的探頭掃查方式下所顯示的波形變化不同，而不同缺陷類型在同種掃查方式下的波形變化也不同。在超聲波探傷儀熒光屏上所顯示的波形變化與缺陷的形狀結(jié)構(gòu)和探頭的檢測方式有關(guān)。

在焊接結(jié)構(gòu)中常見的典型缺陷類型有氣孔、夾渣、未熔合、未焊透、裂紋等，不同缺陷類型在焊縫內(nèi)部的結(jié)構(gòu)形狀不同。

焊縫典型缺陷波形特征

對(duì)幾種典型缺陷進(jìn)行不同探頭檢測方式下的檢測并采集波形數(shù)據(jù)，可以看出不同類型缺陷在不同的探頭檢測方式下所呈現(xiàn)出的波形特征變化不同。分析不同典型缺陷的波形變化規(guī)律。

缺陷結(jié)構(gòu)形狀

在超聲檢測中對(duì)未知缺陷進(jìn)行檢測時(shí)，利用不同的檢測方式，觀察缺陷波幅的變化特點(diǎn)確定缺陷的形狀，并在x射線下可以分為點(diǎn)狀缺陷和面狀缺陷。從采集波形數(shù)據(jù)中，點(diǎn)狀缺陷和面狀缺陷最大的不同是在環(huán)繞檢測下波形變化規(guī)律不同，點(diǎn)狀缺陷在環(huán)繞檢測下波幅變換基本不變，而面狀缺陷在環(huán)繞檢測下波形變化是呈先增大后減少的趨勢。因此，可根據(jù)在環(huán)繞檢測方式下波幅的變化規(guī)律識(shí)別缺陷在焊縫體內(nèi)的結(jié)構(gòu)形狀；

點(diǎn)狀缺陷波形特征

典型的點(diǎn)狀缺陷有點(diǎn)狀氣孔和點(diǎn)狀?yuàn)A渣，兩種典型缺陷在四種檢測方式下的波幅變化規(guī)律基本相同，但可根據(jù)波形寬度進(jìn)行識(shí)別。從典型缺陷波形可以知道，點(diǎn)狀?yuàn)A渣的波寬大小比點(diǎn)狀氣孔的波形大。因此，在超聲波檢測中，確定缺陷點(diǎn)狀結(jié)構(gòu)形狀后可根據(jù)波寬大小對(duì)點(diǎn)狀?yuàn)A渣和點(diǎn)狀氣孔進(jìn)行識(shí)別；

面狀缺陷波形特征

在x射線下焊縫缺陷類型呈面狀的缺陷比較多，有條狀?yuàn)A渣、未焊透、未融合和裂紋四種常見典型缺陷，這幾種典型缺陷在不同探頭掃查方式下的波形變化也有各自特點(diǎn)。

（1）條狀?yuàn)A渣：

探頭左右檢測下，缺陷檢測范圍內(nèi)，探傷儀熒光屏上的波形波幅變化不大、波寬大、現(xiàn)鋸齒狀、根部寬度較大、波幅低；在探頭前后、環(huán)繞和轉(zhuǎn)動(dòng)掃查方式下，波幅都呈先增大后減小的特征，而波形其他形狀特征和探頭左右檢測下的波形類似。

（2）未融合：

未融合缺陷在探頭四種檢測方式下，具有波形形狀單一、尖銳、光滑、有一定波寬并且上升和下降快的特征，但波幅變化不同。在探頭環(huán)繞和轉(zhuǎn)動(dòng)檢測過程中波幅先增大后減?。欢谔筋^左右檢測過程中波幅變化小、波形穩(wěn)定；在探頭前后檢測過程中波形剛開始出現(xiàn)和快消失的時(shí)波幅略有下降。

（3）未焊透：

未焊透缺陷在四中檢測方式下的波形形狀單一，波形上升時(shí)間和下降時(shí)間較長，波形根部寬度較大，但在不同檢測方式下波幅變化不同。在探頭左右檢測過程中波幅變化小、波形穩(wěn)定；在探頭環(huán)繞和轉(zhuǎn)動(dòng)檢測過程中波幅先增大后減小，探頭轉(zhuǎn)到一定角度檢測不到缺陷波；而在探頭前后檢測過程中波形剛開始出現(xiàn)和快消失的時(shí)波幅略有下降。

（4）裂紋：

探頭左右移動(dòng)移動(dòng)時(shí)，裂紋缺陷波形變化無常態(tài)，波幅變動(dòng)厲害，波寬變化較大，并且波形多峰、陡峭、呈鋸齒狀、上升和下降時(shí)間無規(guī)則變化；探頭轉(zhuǎn)動(dòng)和環(huán)繞檢測，當(dāng)探頭轉(zhuǎn)到一定角度檢測不到缺陷波，并且在探頭檢測方向與缺陷反射面垂直的時(shí)候所檢測的波形波幅最大，離開垂直角度時(shí)波幅逐漸減小，但波形特征與水平檢測下的波形類似；探頭前后檢測時(shí)，波幅在波形出現(xiàn)到消失略有減小，在過程中波幅也是變化不斷。